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C-Papers (6)

2011
  • 1. 铝箔腐蚀用DSP控制波形可编程变频电源. 电化学, 2011, 1
2009
  • 1. 扫描电化学微探针的发展及其在局部腐蚀研究中的应用 . 电化学 , 2009, 2
2008
  • 1. 基于USB接口的有机涂层耐蚀性能快速测试仪. 电化学, 2008, 02
  • 2. 印刷电路板缝隙腐蚀行为研究. 材料保护, 2008, 02
  • 3. 铜电路板缝腐蚀过程缝隙中pH、Cl-浓度分布的测量. 电化学, 2008, 01
2007
  • 1. 铝箔腐蚀用大功率变频电源. 电化学, 2007, 01



Patents (6)

  • 1. 扫描隧道显微镜和扫描微电极联用测量系统及其测量技术
  • 【Application Number】
  • CN200510052314.7
  • 【Application Date】
  • 2005-02-05
  • 【Patent Number】
  • CN100543448C
  • 【Publication Date】
  • 2009-09-23
  • 【Inventors】
  • 林昌健; 李彦; 卓向东; 胡融刚
  • 【Abstract】
  • 涉及一种扫描隧道显微镜与扫描微电极联用测量系统及技术,由扫描隧道显微镜(STM) 测量平台,扫描微探针及控制/驱动单元;隧道电流信号和微区电位信号测量单元及测量信 号的控制和处理单元组成。利用扫描微探针同时检测表面隧道电流和表面电位分布,以压电 微扫描和步进电机机械扫描进行扫描测量模式互换,并利用隧道电流作为扫描微电极到达样 品表面的指示,实现了扫描微电极尖端与样品表面距离的定量控制,可显著提高表面微区电 化学腐蚀电位的分布测量的空间分辨度。该系统可同时测量纳米分辨度的表面形貌图像和表 面微区电化学活性分布图像,实现对表面形貌结构—化学活性的相互关联研究。为多种表面 空间分辨测量技术提供相互结合、优势互补、关联研究的开放平台。
  • 2. 一种复合型扫描氯离子敏感微探针及其制备方法
  • 【Application Number】
  • CN200510060012.4
  • 【Application Date】
  • 2005-03-24
  • 【Patent Number】
  • CN100360928C
  • 【Publication Date】
  • 2008-01-09
  • 【Inventors】
  • 林昌健; 胡融刚; 李彦; 卓向东; 杜荣归
  • 【Abstract】
  • 一种复合型扫描氯离子敏感微探针及其制备方法,涉及一种复合型扫描氯离子敏感微探针。提供一种适于商用的新的复合型扫描氯离子敏感微探针及其制备方法。金属电位敏感微探针和氯离子选择性微探针,金属电位敏感微探针和氯离子选择性微探针固接,金属电位敏感微探针和氯离子选择性微探针外设包封层,两探针的尖端部分裸露,两探针的尖端直径各为10-100μm。其步骤为:在银丝一端加工尖端部并生成AgCl膜,电极表面设涂层,暴露出Ag/AgCl尖端部分,形成氯离子选择性微探针;在Pt-Ir合金丝一端加工尖端部,形成金属电位敏感微探针;两探针固接成复合探针;外设包封层,仅尖端部分露出,即形成复合型扫描氯离子敏感微探针。
  • 3. 便携式涂层/金属耐蚀性快速测试系统
  • 【Application Number】
  • CN98125839.5
  • 【Application Date】
  • 1998-12-18
  • 【Patent Number】
  • CN1081329C
  • 【Publication Date】
  • 2002-03-20
  • 【Inventors】
  • 林昌健; 卓向东; 周新亮; 肖利秋; 陈新
  • 【Abstract】
  • 涉及一种用电化学方法测试材料耐蚀性能的装置。设有可移动电化学探头、测试电路、笔记本电脑、电源电路及计算机软件。探头为双电解池三电极系统,测试电路设接口、恒电位单元、A/D、D/A、单片机,接口连探头的三电极,并与D/A、A/D连接,A/D输出由单片机读入,测试电路由单片机控制,单片机接笔记本电脑。用于快速评侧涂层/金属体系耐蚀性能,侧重应用于工业现场,测量快速、数据可靠、灵敏度高、仪器简单,数据解释容易。$#!
  • 4. 金属/聚合物复合材料界面电位分布测量装置
  • 【Application Number】
  • CN95107524.1
  • 【Application Date】
  • 1995-07-04
  • 【Patent Number】
  • CN1035735C
  • 【Publication Date】
  • 1997-08-27
  • 【Inventors】
  • 林昌健; 卓向东; 田昭武; 陈纪东; 王辉; 谭建光
  • 【Abstract】
  • 本发明涉及用于电化学方法测试或分析材料的装置,该装置包括阵列电极、参考电极、电解池、多通道模拟开关、A/D转换器、微计算机和电平转换器。其中,所述阵列电极由金属丝束按M×N阵列排列,与参考电极置电解池内,阵列电极接模拟开关和模/数转换器,模拟开关I/O端接参考电极;模/数转换器输出接微机,微机I/O端口接电平转换器,电平转换器开/关控制信号接模拟开关。该装置可用于直接测量金属/聚合物界面的电位分布。
  • 5. 一种阵列电极
  • 【Application Number】
  • CN95215956.2
  • 【Application Date】
  • 1995-07-04
  • 【Patent Number】
  • CN2236653Y
  • 【Publication Date】
  • 1996-10-02
  • 【Inventors】
  • 林昌健; 卓向东; 田昭武; 陈纪东; 王辉; 谭建光
  • 【Abstract】
  • 一种用电化学方法测试或分析材料的阵列电极, 由一束金属丝组成,每根金属丝间相互绝缘,用环氧 树脂粘连,金属丝按M×N阵列平行排列,金属丝的 一端封装在绝缘材料套圈内,端截面涂刷有机聚合物 涂层。如配合多通道电子技术及微机控制技术,可直 接原位测量金属/聚合物界面腐蚀电位分布,研究相 关腐蚀物种在聚合物中的传输过程、聚合物涂层的不 均一性及缺陷分布,以及金属/聚合物界面腐蚀的发 生与发展机制。
  • 6. 测试微区腐蚀电位电流密度分布的扫描装置
  • 【Application Number】
  • CN86103043.5
  • 【Application Date】
  • 1986-04-28
  • 【Patent Number】
  • CN1003808B
  • 【Publication Date】
  • 1989-04-05
  • 【Inventors】
  • 田昭武; 林昌健; 卓向东
  • 【Abstract】
  • 本发明属于金属局部腐蚀的测试设备,包括外径小、内阻低的微参比电极,机械扫描装置和由微计算机控制电路。配合微机控制的测量电路和软件,能检测到金属表面低达数微米区域和约10微伏的微区电位信号以及电流密度分布图,图形清晰、直观,并给出定量结果。本装置的精度高,灵敏度高,结构简单,造价低廉,适用性强。可用于研究大多数实际体系的金属局部腐蚀机理,评估金属材料耐局部腐蚀性能。

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